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JITG邊界掃描軟件平臺CASCON?
      ? 可伸縮的平臺、超過40種集成工具和直觀的用戶界面
      ? 基于智能工具和自動化系統操作的簡單、快速和面向目標的項目開發
      ? 集成的安全功能，使用測試程序保證安全，避免了對硬件產生損傷
      ? 交互式可視化的布局邊界掃描；用于圖像分析和調試的原理圖和邏輯電平
      ? 支持適用于內部和外部設備邊界掃描的不同測試和編程機制
      ? 通過使用完整的無邊界掃描電路，可擴展測試覆蓋率和精確的故障診斷

邊界掃描硬件設備SCANFLEX? 和 SCANBOOSTER?
      ? 可擴展的高性能平臺，可使用80MHZ的頻率最多同時對8個平行獨立的TAP接口進行掃描
      ? 分開控制的I/O模塊，可進行可重構模擬，數字和模擬混合信號功能
      ? 優良的TAP信號傳輸質量（距離10米，提供完好的信號和時間延遲補償）
      ? 提供對大量測試和邊界掃描仿真、編程策略的廣泛支持
      ? 可自由配置的控制器，I/O模塊，可伸縮系統配置的TAP收發器和TAP接口卡（TIC）

掃描軟件CASCON?
       JTAG/邊界掃描成功的關鍵是取決于應用軟件的質量，在最近20年的跨越式創新發展中，SYSTEM CASCON?是全球使用最多的JTAG邊界掃描軟件平臺。其軟件特點及功能見下圖：

邊界掃描軟件CASCON界面示意圖

CASCON?可被應用在超過50種不同環境下
      ? 擴展邊界掃描測試：
               ◆ 標準測試（集群、存儲器等）
               ◆ 先進AC網絡測試（IEEE 11149.6）
               ◆ 先進算法集群測試（波形、高級語言）
               ◆ 通過仿真的測試和診斷（IEEE 1445）
               ◆ 先進算法混合信號測試（腳本）
               ◆ 對傳感器和執行器的交互式測試
      ? 動態仿真試驗
               ◆ 用于存儲器（sRAM,dRAM）
               ◆ 用于總線設備及系統接口
      ? Flash/PLD/MCU程序設計
               ◆ 邊界掃描高速Flash編程
               ◆ 基于Flash編程的仿真及MCU的片上Flash編程
               ◆ 使用外部接口的串行Flash編程
               ◆ PLD編程（JAM/STAPL/SVF）
               ◆ 并行PLD編程（IEEE 1532）
      ? 控制外部設備
               ◆ 使用內部電路測試引進的交互式測試
               ◆ 飛行探測器的交互式測試
               ◆ I/O功能測試和軟件接口的交互式測試
      ? 圖形化分析和調試
               ◆ 經圖形設備庫進行的BSDL認證
               ◆ 在布局上對于錯誤覆蓋率的自適應分析
               ◆ 在原理和布局上的交叉調試
               ◆ 硬件監視的測試程序調試
               ◆ 對每個交互式布局引腳的硬件調試
平臺具有高度的靈活性
      ? 位于系統中的測試設備
               ◆ 數字邊界掃描測試（IEEE 1149.1/6）
               ◆ 通過IEEE 1149.1的高速Flash編程
               ◆ PLD編程（JAM/STAPL,SVF,IEEE 1532）
               ◆ 通過JTAG調試接口的功能仿真測試
               ◆ 經過模擬的高速FLASH編程
               ◆ 片上驗證和測試IP的控制
               ◆ 內置自檢（BIST）的控制
       ? 位于系統外的測試設備
               ◆ 數字I/O和，模擬I/O（靜態/動態）
               ◆ 對串口FLASH的編程（SPI/I2C）
               ◆ 控制第三方I/O（ICT,FPT,FCT）等

靈活定義的生產測試
      在任何質量保證策略中，測試都是一個重要的組成部分。但是每種產品和生產環境都對測試設備提出了不同的要求。針對這種挑戰，GOEPEL開發了靈活的系統解決方案以適應不同的生產過程，并在沒有損失的情況下整合現有的環境。能將測試工具直接插入生產過程，以快速滿足快速新產品的需求。

完善設備的測試手段
      ? 針對Flash/PLD的最小測試時間和最快編程速度提供了完整的在線能力和很高的壓縮率
      ? 對引腳的探測和精確診斷以及布局缺陷的顯示，比如BGA焊點在應用中的短路或斷路
      ? 用于ATE或AOI系統的完全交互邊界掃描向量測試可產生最高的錯誤覆蓋率
      ? 提供LabVIEW,TestStand, C / C++, Basic, Tcl / Tck, Python等的標準控制接口
      ? 支持浮動License機制以滿足高效利用系統的需求，通過文件歸檔和在線故障數據跟蹤實現的快速項目轉移
另外采用邊界掃描測試設備，具有如下的優勢：
      ? 診斷、探測高密度芯片存在的問題，如SMTs 和BGAs的管腳越來越密,更多的是沒有管腳外露的BGA/FQP/LPQ等封裝，通過該技術可以判斷芯片焊接和電路版SMT的好壞；
      ? 互聯測試，主要檢測電路板級的開路、短路、虛焊或呆滯型等故障；
      ? 存儲器測試，可以對各種存儲器，如SRAM,SDRAM,DDR,DDR2,DDR3等存儲器測試其故障；
      ? FLASH 編程功能，用于生產過程中的程序加載，支持并行，SPI,I2C,NAND等各種FLASH的編程功能；
      ? 對FPGA,CPLD芯片具有 編程功能，通過JTAG接口，可以實現常見的可編程器件的在線編程，簡化生產流程；
      ? 采用該技術可以迅速提升測試覆蓋率，從而確保在實際設計和規?；慨a中的高效率應用；
      ? 同樣可以大大減少生產測試的準備和實施費用。